Objetivo: Medición estática de la tensión en dependencia de la distancia entre placas
Para aumentar la distancia entre las placas de un condensador de placas cargadas y aisladas de cualquier
entrada es necesario realizar un trabajo mecánico. Este trabajo se puede comprobar midiendo
con un voltímetro estático en forma de un aumento de la tensión entre las placas.
![Experimento: Tensión en el condensador de placas (230 V, 50/60 Hz), 8000604 [UE3010800-230], Electrostática](/imagelibrary/UE3010800-230/UE3010800-230_01_Experimento-Tension-en-el-condensador-de-placas-230-V-5060-Hz.jpg)
![Experimento: Tensión en el condensador de placas (230 V, 50/60 Hz), 8000604 [UE3010800-230], Electrostática](/thumblibrary/UE3010800-230/UE3010800-230_01_1200_1200_Experimento-Tension-en-el-condensador-de-placas-230-V-5060-Hz.jpg)
![Cables de experimentación, 75 cm, 2,5 mm², juego de 15, 1002841 [U13801], Circuito eléctrico](/thumblibrary/U13801/U13801_01_140_140_Cables-de-experimentacion-75-cm-2-5-mm-juego-de-15.jpg)
![Fuente de alimentación CC, 0 – 20 V, 0 – 5 A (230 V, 50/60 Hz), 1003312 [U33020-230], Alimentacións](/thumblibrary/U33020-230/U33020-230_01_140_140_Fuente-de-alimentacion-CC-0-20-V-0-5-A-230-V-5060-Hz.jpg)
![Condensador de placas D, 1006798 [U8492355], Electrostática](/thumblibrary/U8492355/U8492355_01_140_140_Condensador-de-placas-D.jpg)
![Base con orificio central 1000 g, 1002834 [U13265], Bases](/thumblibrary/U13265/U13265_01_140_140_Base-con-orificio-central-1000-g.jpg)
![Multímetro analógico ESCOLA 30, 1013526 [U8557330], Aparatos de medida portátiles, analógicos](/thumblibrary/U8557330/U8557330_01_140_140_Multimetro-analogico-ESCOLA-30.jpg)
![Medidor de campo E (230 V, 50/60 Hz), 1021405 [U8557820-230], Electrostática](/thumblibrary/U8557820-230/U8557820-230_01_140_140_Medidor-de-campo-E-230-V-5060-Hz.jpg)
![Banco óptico de precisión D, 1000 mm, 1002628 [U10300], Óptica en el banco óptico](/thumblibrary/U10300/U10300_01_140_140_Banco-optico-de-precision-D-1000-mm.jpg)
![Lente convexa sobre mango f = 100 mm, 1003023 [U17102], Componentes ópticas sobre mango](/thumblibrary/U17102/U17102_01_140_140_Lente-convexa-sobre-mango-f-100-mm.jpg)
![Osciloscopio digital de 2x30 MHz, 1020910 [U11834], Osciloscopios](/thumblibrary/U11834/U11834_01_140_140_Osciloscopio-digital-de-2x30-MHz.jpg)
![Dinamómetro de precisión, 1 N, 1003104 [U20032], Balanzas de resorte](/thumblibrary/U20032/U20032_01_140_140_Dinamometro-de-precision-1-N.jpg)
![Eje de torsión, 1008662 [U20050], Movimientos de rotación](/thumblibrary/U20050/U20050_01_140_140_Eje-de-torsion.jpg)
![Láser de He y Ne, 1003165 [U21840], Física de láser de estado sólido](/thumblibrary/U21840/U21840_01_140_140_Laser-de-He-y-Ne.jpg)
![Cuerpos de vidrio para anillos de Newton, 1008669 [U22018], Componentes ópticas sobre mango](/thumblibrary/U22018/U22018_01_140_140_Cuerpos-de-vidrio-para-anillos-de-Newton.jpg)
![Filtro de interferencia 578 nm, 1008672 [U22021], Componentes ópticas sobre mango](/thumblibrary/U22021/U22021_01_140_140_Filtro-de-interferencia-578-nm.jpg)
![Fuente de alimentación de CA / CC, 0 − 12 V / 3 A (230 V, 50/60 Hz), 1021091 [U22500-230], Alimentacións](/thumblibrary/U22500-230/U22500-230_01_140_140_Fuente-de-alimentacion-de-CA-CC-0-12-V-3-A-230-V-5060-Hz.jpg)
![Placa de plexiglás, 1000880 [U8476371], Electrostática](/thumblibrary/U8476371/U8476371_01_140_140_Placa-de-plexiglas.jpg)
![Muestra de zinc para el efecto Hall, 1018752 [U8557410], Efecto Hall](/thumblibrary/U8557410/U8557410_01_140_140_Muestra-de-zinc-para-el-efecto-Hall.jpg)
![Juego de aparatos “La curva de histéresis”, 1018889 [U8557500], Magnetismo](/thumblibrary/U8557500/U8557500_01_140_140_Juego-de-aparatos-La-curva-de-histeresis.jpg)
![Soporte y filtro de la Moticam, 1021367 [U8557790], Óptica en el banco óptico](/_images/ProductImageComingSoon/140es.gif)
![Experimento: Experimento de Millikan (230 V, 50/60 Hz), 8000774 [UE5010400-230], Fundamentos de la física atómica](/thumblibrary/UE5010400-230/UE5010400-230_01_140_140_Experimento-Experimento-de-Millikan-230-V-5060-Hz.jpg)